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- / 5月會議預告｜誠邀您參加成都表界面、杭州半導體會議，我們現(xiàn)場見！
成都
表界面科學跨越物質(zhì)、能源和信息等眾多基礎(chǔ)學科，是催化、超導和芯片等國家重大戰(zhàn)略需求的共性科學基礎(chǔ)。全面展示我國表界面相關(guān)領(lǐng)域的最新研究進展，推動學科發(fā)展，為我國新質(zhì)生產(chǎn)力的發(fā)展做出貢獻。由中國化學會物理化學學科委員會主辦，北京大學納米器件物理與化學教育部重點實驗室承辦。
本次為付費會議，掃碼獲取詳細信息
誠邀各位蒞臨優(yōu)尼康展位B64,探討表面測量的種種應用。
杭州
目前，第三代半導體材料（例如碳化硅、氮化鎵等）已經(jīng)深入發(fā)展并得到廣泛應用，而以氧化鎵、金剛石和氮化鋁等為代表的第四代半導體材料也在逐步嶄露頭角，呈現(xiàn)蓬勃發(fā)展態(tài)勢。為促進全國范圍內(nèi)第四代半導體學術(shù)、技術(shù)的交流合作和產(chǎn)業(yè)發(fā)展，在浙江省杭州市共同組織召開2025年第四代半導體技術(shù)研討會。
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參展設(shè)備
 F50 膜厚測量儀 | ||
F50可以非常簡單地獲得最大直徑450毫米的樣品薄膜厚度分布圖。采用r-θ 極坐標移動平臺，可以快速定位所需的測試點并且實時獲得測試厚度，大約每秒測試兩點。 | ||
相關(guān)應用：半導體制造（光刻膠、氧化物/氮化物/SOI、晶圓背面研磨）；LCD 液晶顯示器（聚酰亞胺、ITO 透明導電膜）；光學鍍膜（硬涂層、抗反射層）；MEMS 微機電系統(tǒng)（光刻膠、硅系膜層）。 |
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Filmetrics F20 膜厚測量儀 | ||
您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果。基于某模塊化設(shè)計的特點，F(xiàn)20適用于各種應用。 | ||
相關(guān)應用：光刻膠、工藝薄膜、介電材料、硬涂層、Parylene、抗反射層、醫(yī)療設(shè)備、OLED、玻璃厚度、ITO與其他TCO。 |
優(yōu)尼康公眾號
售后服務(wù)支持
